На онлайн-встрече мы поговорим о проведении неразрушающего контроля методом ультразвуковой микроскопии, проведем обзор оборудовании для УЗ-микроскопии, рассмотрим виды дефектов.
Утгоф Валерия, руководитель проектов по микроэлектронике
Участие бесплатное. Необходима регистрация. Количество мест ограничено. После регистрации мы будем присылать напоминания и ссылку на вход в вебинарную комнату.