Заседание Международной электротехнической комиссии в Нью-Йорке
23-24 июня 2011 года в Нью-Йорке прошло заседание технического комитета № 101 (Электростатика) Международной электротехнической комиссии. На заседании комитета присутствовало более 40 представителей национальных технических комитетов из Германии, Канады, Нидерландов, России, США, Швейцарии, Швеции и Японии. Россия была представлена участниками отечественного технического комитета по стандартизации А.С. Кривовым (Метрологическая ассоциация промышленников и предпринимателей), Д.В. Трегубовым («ЕСД Эксперт») и С.А. Честниковой (НПФ «Диполь»)

Международная электротехническая комиссия (International Electrotechnical Commission, IEC) — международная некоммерческая организация по стандартизации в области электрических, электронных и смежных технологий. Некоторые из стандартов МЭК разрабатываются совместно с Международной организацией по стандартизации (ISO).


Основными итогами заседания технического комитета No.101 стали:

  • Внесение существенных изменений в стандарты:
    • 61340-5-1 Защита электронных устройств от электростатических явлений – Общие требования
    • 61340-5-3 Защита электронных устройств от электростатических явлений – Методы испытаний упаковочных материалов, предназначенных для чувствительных к электростатике устройств
  • Внесение обновлений и принятие второй редакции стандартов:
    • 61340-4-6 Стандартные методы испытаний для специального применения – Браслеты
    • 61340-4-7 Стандартные методы испытаний для специального применения – Ионизация
    • 61340-4-8 Стандартные методы испытаний для специального применения – Экранирование от разряда – Сумки
    • 61340-4-9 Стандартные методы испытаний для специального применения – Одежда
  • Принятие первой редакция стандарта:
    • 61340-4-10 Метод испытания защиты чувствительных к электростатике устройств – измерение сопротивления по двум точкам

Также комитетом обсуждались вопросы методов испытаний на статическое электричество для различных типов одежды, вопросы моделирования электростатических эффектов и комплексной защиты электронных устройств от электростатических явлений.

Прочие новости и статьи