39 / 106
Д Е К А Б Р Ь 2016 №4 (12)
37
Методы муара — общее название методов измерения полного поля, в ко-
торых используется явление интерференции между решеткой, присутствующей
в определенной форме на исследуемом образце, и эталонной решеткой, для уве-
личения поверхностных деформаций и построения карты рельефа отражающей
сдвиг поверхности — муар-интерференционной картины, или интерферограммы.
Для измерения относительно больших значений сдвига применяется механиче-
ский метод муара, в котором применяется интерференция линейных решеток.
Чувствительность этого метода достигает 25 мкм. В оптическом методе муара,
или муаровой интерферометрии, дифракционная решетка освещается лазером,
за счет чего чувствительность повышается до субмикрометрового уровня. Это
позволяет измерять упругие деформации конструкционных материалов.
Материал подготовила Ксения
Бунатян, руководитель направления
контрольного оборудования компании
«Диполь»
Муаровый узор показывает относительный сдвиг решеток в представлении
полного поля. Это свойство делает его великолепным инструментом для иссле-
дования и количественного определения градиентов локальных деформаций.
На практике решетка прикрепляется к поверхности исследуемого объекта. Она
деформируется вместе с ним, а при наложении на нее недеформированной (эта-
лонной) решетки появляется муаровый узор, позволяющий судить о природе и ве-
личине поля деформаций. Каждая муаровая полоса представляет собой линию
постоянного сдвига в направлении, перпендикулярном направлению эталонной
решетки (обратите внимание, что полосы на рис. 1, обусловленные поворотом,
не содержат сдвиговой составляющей). Сдвиг U муаровой полосы определяется
формулой:
U = N×p
,
где N — номер полосы относительно известного нулевого сдвига, а p — шаг
эталонной решетки, то есть расстояние между ее линиями.