Альтами МЕТ П микроскоп для инспекционных работ в полевых условиях

Методы контрастирований в отраженном свете:

•  светлое поле;

•  поляризация.

Увеличение (доступные значения):

 100Х и 500Х (200*, 400*, 1000*, 2000Х*).

Окуляры:

•  WF10X/18 мм;

•  WF10X/18 мм с перекрестием и шкалой;

•  WF20X/11 мм.

Объективы:

•  PL L 10X/0.25 (рабочее расстояние 11.0 мм);

•  PL L 20X/0.40 (рабочее расстояние 6.0 мм)*;

•  PL L 50X/0.70 подпружиненный (рабочее расстояние 3.7 мм);

•  PL L 100x/0.85 подпружиненный (рабочее расстояние 0.2 мм)*.

Корпус:

•  из отлитого под давлением алюминия;

•  окрашен огнеупорной эмалью;

•  основание со специальным вырезом для установки на цилиндрические поверхности.

Фокусировка:

•  диапазон фокусировки 25 мм.

Отраженный свет:

•  плавная регулировка яркости освещения;

•  источник освещения - светодиод.

 В комплекте:

•  поляризатор и анализатор;

•  алюминиевый кейс для переноски;

•  руководство по эксплуатации.

   

Дополнительно может поставляться*:

•  магнитный столик с микроподвижками*;

•  цифровая окулярная камера*;

•  фотоаппарат Canon EOS с оптическим адаптером*;

•  программа для анализа изображений Altami Studio*;

•  окуляр со шкалой*;

•  объект-микрометр с двумя шкалами (100х0.01 мм и 100х0.01 см) и двумя;

•  калибровочными точками (d=0.15 мм и d=0.07 мм)*;

•  ноутбук*.