Описание
Описание
Пробник шин питания Keysight N7020A используется для оценки целостности сигналов питания при измерении шумов, пульсаций и переходных процессов в шинах электропитания постоянного тока, для которых требуется высокая — порядка милливольт — чувствительность. Этот пробник предназначен для измерения периодических и случайных помех, реакции на статическое или динамическое изменение нагрузки, реакции на программируемое изменение напряжения и других аналогичных измерений целостности сигналов питания. Многие современные электронные устройства предъявляют более жесткие требования к шинам питания постоянного тока по сравнению со своими предшественниками, и пробник N7020A позволяет гарантировать соответствие разрабатываемых устройств этим строгим нормам.
Пробник шин питания N7020A может использоваться с осциллографами Keysight InfiniiVision 3000T и 4000 серии X, осциллографами серии InfiniiVision 6000X, заказанными после 1 февраля 2016 года, цифровыми осциллографами и осциллографами смешанных сигналов высокого разрешения Infiniium серий S, а также цифровыми осциллографами и осциллографами смешанных сигналов Infiniium серии 9000 с прошивкой версии 5.20 или более поздней.
Основные возможности и технические характеристики
- Низкий уровень шумов: пробник с коэффициентом деления 1:1 добавляет всего 10% к уровню собственных шумов осциллографа, к которому он подключен.
- Широкий диапазон напряжений смещения: диапазон напряжений смещения ±24 В позволяет эффективно устранять постоянную составляющую тока питания.
- Малая нагрузка: входной импеданс 50 кОм обеспечивает минимальную нагрузку на исследуемую шину питания.
- Широкий динамический диапазон: благодаря диапазону входных сигналов ±850 мВ в сочетании с широким диапазоном напряжений смещения обеспечивается возможность измерений переходных процессов в шинах питания в широких пределах.Это очень удобно при измерении программируемых сигналов питания, например таких, которые используются в режимах экономии энергии микроконтроллеров.
- Широкая полоса пропускания: полоса пропускания 2 ГГц позволяет обнаруживать быстрые переходные процессы, которые могут оказывать негативное влияние на тактовые сигналы и сигналы данных.
